2007/10/22

小林正樹教授の超音波タグ蛍光断層画像計測技術の研究に関する記事がSPIE(国際光工学会,米国)SPIE Newsroomに掲載されました。 http://spie.org/x16921.xml?highlight=x241 [PDF形式 567kB]